FISCHER X-RAY菲希爾膜厚儀設(shè)備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標準，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學計算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時或親臨我司測試及參觀!!! FISCHER X-RAY 膜厚儀采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來測量厚度，
準。德國菲希爾 FISCHER成立 1953 年是世界上專業(yè)生產(chǎn)涂鍍層測厚儀zui早的廠家之一, 其電鍍膜厚儀占世界 80%市場， 德國菲希爾 FISCHER 已成為鍍層厚度測量和材料測試儀器領(lǐng)域*的*
可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
zui多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。 應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造zui大的價值是金東霖追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖,有需要的朋友請 王生:133 1655 7996